CKT低電圧配線テスト機器はお客様にチップ・キャリア、マルチ・チップ・回路板、セラミック基板、フレックス回路と高密度印刷回路などの製品の大量生産するために高度処理能力のテスト方法を提供しています。 このシステムは価格安い生品ですので、テスト電圧２５０ＶＤＣ以下の仕様の配線テストについて非常に適しています。

これらのシステムの特徴は、テスト・パラメータを全てプログラミングすることができ、２５０ＤＶＣまで使え、絶縁抵抗について１００メガ・オームまで計測できます。静電気の影響を除くために、バイポーラ技術を用いてスイッチング・マトリクッスを組み立てています。

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高密度配線連接テストのターンキー・システム

• CKT2170型シリーズ こららのシステムは、高密度印刷回路、チップ・キャリア、セラミック基板、マルチ・チップ・モジュール、ＬＣＤなどをテストするための総合電子テストシステムです。

台式システム

• CKT2175-1０型 この台式システムは最大 2048テスト点を持つ台式の形に組み立てたシステムです。各種なコネクタができます。

テスト点拡張システム

• CKT2175-2０型 このシステムは256,000テスト点まで拡張できます。スイッチング・マトリクッスはいろいろな機械と電子ラックにパケージングにすることができます。

マルチ言語サポート：

CKT2175シリーズは英語、ドイツ語、イタリア語、フランス語、スペイン語と中国語のユーザー・インタフェースがサポートされています。