Das CKT2175-20 ist ein schnelles Verdrahtungs-Testsystem mit 250 VDC Prüfspannung. Theoretisch besteht keine Begrenzung in der Anzahl der Testpunkte. Das System ist so präzise aufgebaut, dass regelmäßige Kalibrierintervalle entfallen können. Entsprechend beinhalten die hochgenauen Stimulusgeneratoren und Messinstrumente auch absolut keine internen Abgleichmöglichkeiten. Die bipolare Halbleitermatrix ist hoch integriert und kompakt sowie in zahlreichen Formfaktoren lieferbar.

Ideal ist dieses System für Verbindungstest-Anforderungen die auf engstem Raum, tausende Testpunkte in einer kompakten Schaltmatrix verlangen. Typische Beispiele sind: Mechanische Handlings-Systeme für Tests von Multichip-Modulen, Rückwand-Verdrahtungen, Backplanes für Telekommunikations-Gestelle usw..

Das System CKT2175-20 besitzt die gleichen Testspezifikationen und Charakteristiken wie das CKT2175-10. Auch die Grafische Benutzeroberfläche sowie die Testprogrammerstellung sind identisch.

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