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CK TECHNOLOGIES, INC.
 CKT steht für Testsysteme · · · Kabeltest · Verdrahtungstest · Backplanetest · Platinentest · Lichtleitertest
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Startseite >> Hochspannungs-Testsysteme >> CKT1175-20
- Hochspannungs-Testsysteme -

CKT1175-20. Hochspannungs-Verdrahtungs-Testsystem

Model CKT1175-20 with Rack-Mounted Switching
CKT1175-20 mit 32.000 Testpunkten

Model CKT1175-20 with Rack-Mounted Switching
CKT1175-20 mit 25.000 Testpunkten

CKT1175-20 ist ein Hochspannungs-Verdrahtungs-Testsystem das bis 96.000 Testpunkte ausgebaut werden kann Die Testpunktkarten sind mit 100 oder 150 Testpunkten bestückt und in Baugruppenträger montiert. Als Standard-Ausgangsstecker zu den Adapterkabeln, wird das CKT MAC Stecksystem verwendet. Alternativ stehen zahlreiche andere Schnittstellenstecker zur Verfügung.

Das System steht in unterschiedlichen Gehäusen und Schränken zur Verfügung. Vorwiegend wird die Steuerkonsole separat aufgebaut und die Schalteinheiten in Gruppen von 3.000 bis 10.000 Testpunkten in Schränken zusammengefasst. Beliebige Kombinationen von Schalteinheiten sind ebenso möglich, wie die Integration in Kunden-Prüfstände.

Verbindungsmessungen erfolgen beim CKT1175-20 mit Strömen bis 5 A. Der Isolationswiderstand wird mit Spannungen bis 2.000 VDC gemessen. Zusätzlich kann bei Bedarf die Spannungsfestigkeit mit bis zu 1.500 VAC (effektiv) geprüft werden.

Das System CKT1175-20 wird vorwiegend für den Test von Verteilerboxen, Steuer- und Relaistafeln sowie zur Prüfung umfangreicher Verdrahtungen in Hubschraubern und militärischen Flugzeugen verwendet. Phasenmessungen an Datenbus Transformatoren, Präzisions-Bauteilmessungen, Fiber-Optikmessungen, usw., werden durch sinnvolle optionale Einrichtungen ermöglicht.

Die CKT1175-20 Software residiert auf der Windows XP Professional Plattform. Die Schnittstelle zwischen Bediener und Testsystem ist somit optimal. Die Software wurde für intuitives Arbeiten entwickelt und besitzt Fähigkeiten, die weit über normale Testsystemsoftware hinausgeht. Einige Beispiele:

  • Anwenderspezifische Fehlerprotokolle können frei erstellt, gedruckt, auf internen Speichereinrichtungen abgelegt oder zu externen Datenbanken transferiert werden.
  • Für die Analyse von Prüflings-Fehlern stehen zahlreiche Diagnosefunktionen zur Verfügung.
  • Selbst generierte interne Testabläufe garantieren optimale Einsatzbedingungen des Testsystems.

Die Anwendungs-Software ist verfügbar in Chinesisch, Deutsch, Englisch, Französisch, Italienisch, Spanisch.

Datenblatt herunter laden: CKT1175-20