CKT设计的CKT2170型系列，专用于高密度印刷电路装置的大量互连线路的测试工程。处理的对象如陶瓷基片、芯片载体、多芯片电路板和液晶显示器等。以上照片是测试芯片载体的系统。

CKT2170型系列系统是由一个手动或者自动的产品处理机、探测头和集成型CKT2175测试仪器组成的成套系统。系统的机械部份通常是由产品的形式规格、测试产品的生产要求、测试点的密度性和产品位置调整的要求来决定。CKT2175型测试仪器使用电子标准仪器结构, 其程控开关器的形式是根据特定的装配要求而设计的。

该系统的特点如下：

• 可编程测试电压最大250伏直流电压
• 绝缘电阻测量最大100 兆欧
• 开路测试(电路连续性测试) < 1 欧姆, 使用电流 50 毫安
• 高处理量，比如检测5,000 测试点的产品，可以在10 秒內完成。其中包括机械处理时间
• 可以进行单面探测，或者上 / 下两面探测
• 可互换的测试头
• 探测间距小至0.008 英寸（200 微米）
• 多重图象分步重复测试
• 装有视觉监视装置, 保证精确度和自动产品位置对正调整。

欢迎寻找测试方案的厂家问讯有关上述产品的详细资料。CKT对设计与制造类似的系统具有多年丰富经验，能够为您提供最佳解决方案。

下载数据表: CKT2170